服務(wù)項目
Project我們的項目
拉力試驗
芯片強度試驗
高應(yīng)變率-振動試驗
低應(yīng)變率-板彎/彎曲試驗
高應(yīng)變率-機械沖擊試驗
芯片封裝完整性-封裝打線強度試驗
芯片封裝完整性-封裝體完整性測試
三綜合(溫度、濕度、振動)
四綜合(溫度、濕度、振動、高度)
自由跌落
紙箱抗壓
板階可靠性(Board Level)相關(guān)測試藉由模擬外來應(yīng)力(Stress),評估對元器件結(jié)合所造成的強度,以及重復使用次數(shù)對產(chǎn)品未來的使用壽命之影響。
主要是以焊錫(Solder)做為導通連結(jié),后續(xù)延伸設(shè)計可采用PCB金手指、USB接頭與其他多種非焊錫連結(jié)方式
集成電路